logo
> 製品 > 環境試験の部屋 >
ICの半導体のための気候上PCT Hastの老化テスト部屋

ICの半導体のための気候上PCT Hastの老化テスト部屋

気候上PCT Hastの老化テスト部屋

ICの半導体の老化テスト部屋

R232Cの老化テスト部屋

起源の場所:

中国

ブランド名:

BOTO

証明:

CE ISO

モデル番号:

BT-HASTシリーズ

お問い合わせ
引金 を 求め て ください
製品詳細
力:
電子
使用法:
普遍的な試験機
温度較差:
-80℃~+200℃
湿気範囲:
20%~98%
製品名:
温度の湿気の定温器
保証:
12か月
ハイライト:

気候上PCT Hastの老化テスト部屋

,

ICの半導体の老化テスト部屋

,

R232Cの老化テスト部屋

支払いと配送条件
最小注文数量
1set
パッケージの詳細
木の場合
受渡し時間
5-25日
支払条件
L/C、T/T、ウェスタン・ユニオン
供給の能力
1ヶ月あたりの100組のセット/セット
製品説明

ICの半導体のための気候上PCTのhastの老化テスト部屋

電気器具:

BT-HASTの高圧蒸気の試験機テストは環境ストレスを改善することである(のような:温度は)圧力を(プロダクト電圧に、負荷、等適用される)、テスト プロセスのスピードをあげるために、調査のプロダクトかシステム寿命 テスト時間および分析時摩耗の問題および電子部品の生命および機械部品、耐用年数の欠陥の分布関数の形、および故障率の増加の原因の分析短くするために働かせ、

1. BT-HASTの円の設計の高圧蒸気の試験機はさみ金は、過熱蒸気の衝撃試験の結果の直接影響によってテストの間にプロダクトを避けるためにテスト凝縮の点滴注入現象を防ぐことができる

2. BT-HASTの高圧蒸気の試験機はまた顧客の製品仕様書の自由なカスタマイズされた棚に従って二重層のステンレス鋼 プロダクト フレームが、カスタマイズすることができる装備されている。

3. BT-HASTの8台のテスト サンプル信号の塗布ターミナルが装備されている高圧蒸気の試験機の標準はまた必要として55台のバイアス ターミナルを提供するためにターミナルの数を高めることができる。

4. BT-HASTの特別なサンプル棚が付いている高圧蒸気の試験機は複雑なワイヤーで縛る操作を除去する

モデル BT-BND-GL-250 BT-BND-GL-350 BT-BND-GL-250D BT-BND-GL-350D BT-BND-GL-250M BT-BND-GL-350M
内法 25*D35 30*D45 40*D55 50*D60 25*D35 30*D45
外法 56*65*105 (W*H*D) cm 66*105*125 (W*H*D) cm 76*115*135 (W*H*D) cm 86*135*145 (W*H*D) cm 56*65*105 (W*H*D) cm 66*105*125 (W*H*D) cm
臨時雇用者の範囲 105℃~132℃ 105℃~142.9℃ 105℃~155℃
圧力範囲 +0.2~2.0kg/cm2 +0.2~3.0kg/cm2 +0.2~3.5kg/cm2
湿気範囲 65%~100%RH (調節可能な)
コントローラー BND-6890 USBポートR-232Cの港
決断 臨時雇用者:湿気のある0.1℃:0.1%RH圧力:0.1 kg/cm2

会社の紹介

ICの半導体のための気候上PCT Hastの老化テスト部屋 0ICの半導体のための気候上PCT Hastの老化テスト部屋 1ICの半導体のための気候上PCT Hastの老化テスト部屋 2ICの半導体のための気候上PCT Hastの老化テスト部屋 3

お問い合わせを直接お送りください

プライバシーポリシー 中国 良質 環境試験の部屋 サプライヤー。Copyright © 2021-2026 BOTO GROUP LTD すべての権利は保護されています.