Name: ICの半導体のための非常に加速された圧力老化テスト機械PCTテスト部屋
Brand: BOTO
SKU: BT-H-2273
Rating: 4.7 (156 reviews)

ICの半導体のための非常に加速された圧力老化テスト機械PCTテスト部屋

Highly Accelerated Pressure Aging Test Machine PCT Test Chamber For IC Semiconductors

基本情報

起源の場所:	中国
ブランド名:	BOTO
証明:	CE ISO
モデル番号:	BT-H-2273

最小注文数量:	1set
価格:	Negotiated
パッケージの詳細:	標準的な木の場合
受渡し時間:	1-15日、交渉されるため
支払条件:	L/C、T/T
供給の能力:	1ヶ月あたりの100組のセット/セット

接触

電源:

1 pH 3ライン、50/60HZ;

実用温度::

121℃;132℃;（143℃特別な選択）

温度較差::

100~135℃

標準::

IEC60068-2-66 ets

保護しなさい::

水不足分の貯蔵

蒸気圧力::

3.0Kg/cm2

サンプル棚::

2つの層

循環方法::

水蒸気の自然な対流の循環

作動の湿気::

100%RH飽和蒸気の湿気

付属品::

3層のステンレス鋼の仕切り

ハイライト:

加速された圧力老化テスト機械

ICの半導体PCTの部屋

環境試験PCTの部屋

ICの半導体のための非常に加速された圧力老化テスト機械PCTテスト部屋

製品の説明

PCTの高圧加速された老化する試験装置適用範囲は加速された生命テストのための防衛、大気および宇宙空間、自動車部品、電子部品、プラスチック、磁石の企業、医薬品、サーキット ボード、多層サーキット ボード、IC、LCD、磁石、照明、照明プロダクトおよびすぐに製品の欠陥および弱さを露出するのに使用される製品設計の段階で使用される他の製品のテスト、関連製品の密封の性能のために適している。プロダクトの耐久性そして空気堅さをテストしなさい

テスト標準にIEC60068-2-66、JESDEC-A110、A118、IEC60068-2-66、JESDEC A110、A118に会うことができる合いなさい

高い加速された耐久度テストの部屋のシミュレーションの気候は1.を特色にする。すばらしい範囲に使用故障率を減らす輸入された高温電磁弁の二重回路の構造は採用される。2.プロダクトの蒸気の直接影響を避ける別の蒸気の世代別部屋ためにプロダクトへの部分的な損害を与えないため。3。ドア ロックのlabor-saving構造は第一世代プロダクトのディスク ハンドルの困難な錠の欠点を解決する。4.テストの前の排気の冷気;テストの間の冷気の排気の設計は（テスト バレルの空気を排出するため）圧力安定性および再現性を改善する。5.長い間動く機械のための超長不変の実験操作の時間、400時間。6.検出し、保護するテスト部屋の水位センサーを通した水位の保護。7.タンク圧力抵抗の設計、タンク ボディ圧力抵抗（140t））水圧テスト6kgと一直線の2.65kg。8.二段式圧力安全防御装置は二段式組合せのコントローラーおよび機械圧力防御装置を採用する。9.安全保護および緊急の安全装置のための二段式自動圧力救助ボタン。

サイズ情報

モデル	PCT-30	PCT-35	PCT-35
内のり寸法（WxHxD） mm	300x500	340x500	400×500
実用温度	121°C;132°C;（143°C特別な選択）
使用しなさい蒸気圧（絶対圧）を	1つの包囲された大気圧+0.0Kg/cm2-2.0Kg/cm2;（特別な指定の3.0Kg/cm2ffl）
循環方法	水蒸気の自然な対流の循環
安全防御装置	水不足の保護、重圧保護、（自動/手動水補充機能、自動圧力救助機能と）
付属品	ステンレス鋼の下見板の3つの層
作動の湿気	100%RH飽和蒸気の湿気
電源	AC220V、50/60Hz/